国家知识产权局信息显示=◆，飞纳台式科学仪器（上海）有限公司申请一项名为“CMOS芯片成像缺陷到缺陷源自动分析系统及方法”的专利，公开号CN121068622A，申请日期为2025年7月▪-。
专利摘要显示□，本发明提供了一种CMOS芯片成像缺陷到缺陷源自动分析系统及方法，包括芯片容器模块用于容纳不同型号的CMOS芯片；配置文件模块用于存储CMOS芯片的像素间距和芯片容器的原点坐标信息；数据导入模块用于导入CMOS芯片的成像缺陷坐标数据；坐标转换模块用于根据配置文件模块和数据导入模块，将缺陷坐标数据转换为显微分析设备的空间坐标；显微分析设备用于根据显微分析设备的空间坐标对缺陷源进行分析。本发明的坐标转换模块采用像素间距和原点位置等参数进行计算★，确保了坐标转换的准确性，提高了缺陷源定位的精度•。本发明通过配置文件模块和坐标转换模块，实现了从缺陷坐标读取到显微分析设备坐标转换的自动化，减少了人工干预，提高了分析效率。
天眼查资料显示◆●，飞纳台式科学仪器（上海）有限公司□●△，成立于2016年★-，位于上海市□，是一家以从事科技推广和应用服务业为主的企业●□○。企业注册资本500万人民币□。通过天眼查大数据分析，飞纳台式科学仪器（上海）有限公司参与招投标项目2次，专利信息1条，此外企业还拥有行政许可1个▽▽。
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